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Poster

AFM-Untersuchungen von funktionellen Beschichtungen und Strukturänderungen unter mechanischer Beanspruchung

Sonntag (01.01.2040)
00:00 - 19:03 Uhr

00:00 - 19:03 Uhr

Die Rasterkraftmikroskopie (AFM) hat sich in den letzten Jahren als eine vielseitige Abbildungstechnik von Oberflächen mit einer sehr hohen Ortsauflösung etabliert. Über die Untersuchung der reinen Oberflächentopographie sind erweiterte Modi in der Lage, gleichzeitig Informationen über die elektrischen und magnetischen Eigenschaften sowie Adhäsionsprozesse auf Oberflächen zu liefern. Interessanter wird es, wenn das AFM mit geeigneten Messzellen für in-situ-Untersuchungen in kontrollierten Atmosphären oder in Elektrolyten unter elektrochemischer Kontrolle ausgestattet ist. Dies ermöglicht die Untersuchung von Korrosions- und Adhäsionsprozessen unter Bedingungen, die die Betriebsumgebung repräsentieren.

Ein aktueller Forschungsschwerpunkt unseres Fachbereiches liegt in den Untersuchungen der Deformationseigenschaften von Funktionsschichten auf Leichtmetalllegierungen, sowie in situ Untersuchungen des Korrosionsverhaltens unter kombinierter korrosiver und mechanischer Beanspruchung mittels AFM. Durch die Integrierung eines Zug-Druckmoduls in den Probentisch des Rasterkraftmikroskops haben wir jetzt die Möglichkeit, verschiedene Materialien uniaxialen Umformversuchen mit bis zu 5 kN Kraft zu unterziehen. Dabei können unter anderem auch zyklische Belastungen genutzt werden, um Ermüdungsprozesse zu simulieren. Da die Messungen in situ ohne die De- und Remontage der Probe durchgeführt werden, ermöglicht der Aufbau nicht nur Messungen mit präziser Positionssteuerung, sondern auch die Untersuchung von Prozessen im elastischen Bereich, die für die Aufklärung der Mechanismen, die zu Ermüdungsversagen führen, entscheidend sind.

Die Posterpräsentation wird detaillierte Informationen zum neuen AFM-Setup liefern und unsere aktuellen Ergebnisse zur Verformung dünner Schutzschichten auf AA2024-T3 zusammenfassen.

Sprecher/Referent:
Dr. Julia Witt
Bundesanstalt für Materialforschung und -prüfung (BAM)
Weitere Autoren/Referenten:
  • Ahed Almalla
    Bundesanstalt für Materialforschung und -prüfung (BAM)
  • Dr. Özlem Özcan Sandikcioglu
    Bundesanstalt für Materialforschung und -prüfung (BAM)